Энергия дисперсионного рентгеновского флуоресцентного (EDXRF) спектрометра

XDLM РЕНТГЕНА FISCHERSCOPE и ряд XDAL

спектрометры XDLM с микро центром, ламповой и пропорциональной встречной трубе идеально удовлетворяют для осмотра частей, где маленькие структуры измерены. Типичные заявления - измерения на правлениях PC, контактах штепселя и электронных компонентах. Спектрометры XDLM оборудованы четырьмя сменными апертурами и программируемым XY (Z) имеющая размеры стадия. Это делает их идеально удовлетворенными для того, чтобы проверить выпускаемые серийно части.

спектрометры XDAL с кремниевыми датчиками ПИН обеспечивают надежные аналитические результаты и чтения толщины покрытия даже с маленькой концентрацией и очень тонкими покрытиями. С их быстрым и очень точным XY (Z) имеющая размеры стадия, им идеально удовлетворяют для автоматизированных типовых измерений.

У XDAL и спектрометров XDLM есть превосходная долгосрочная стабильность, которая отражена в значительно уменьшенном усилии по калибровке, между прочим.

Используя ФИШЕРА фундаментальный метод параметра, системы покрытия так же как твердые и жидкие образцы могут быть проанализированы бесстандартные.