Энергия дисперсионного рентгеновского флуоресцентного (EDXRF) спектрометра, в линию для фотоэлектрической промышленности

X-Strata980 - рентабельное решение для процесса и контроля качества тонкой пленки фотогальванические клетки. Это - высокая эффективность, микропятно, главная скамьей энергия дисперсионный спектрометр флюоресценции рентгена для определения многослойной толщины покрытия и анализа состава небольших аналитических областей. Это соответствует Международной Организации по Стандартизации методов испытаний 3497, Американское общество по испытанию материалов B568 и ШУМ 50987.

система имеет как ее источник возбуждения проверенное на практике, 100 ватт, Оксфордские Инструменты микрососредотачивают Рентгеновскую трубку, и оснащено высокоэффективным, peltier-охлажденным датчиком ДИОДА ПИН СИ. Эта комбинация обеспечивает выдающуюся точность и низкие пределы обнаружения, даже в короткие времена измерения. В течение секунд получены толщина покрытия и результаты состава.

нет никакой типовой требуемой подготовки. Это - просто вопрос размещения образца в большой аналитической палате X-страт, используйте лазер центра, чтобы достигнуть правильного центрального расстояния, и нажать на кнопку 'Go', чтобы начать измерение.

Это позволяет быстрый анализ толщины слоя и состав клеток и может быть частью передать/подвести процесса принятия решений, гарантируя, что произведенные части встречают спецификацию, таким образом обеспечивая необходимую эффективность преобразования солнечной энергии в электричество.