Память устройства для испытания системы

Эта испытательная система памяти следующего поколения для оценки, анализа и производства объема предлагает значительно улучшенную работу стоимости и является подходящей для того, чтобы провести тесты пакета на многие виды устройств памяти.

Особенности & Работа

Работа Высокой стоимости · Одновременное Тестирование Двух Типов Устройства
(1) В единственной конфигурации главы теста, параллельное измерение до 512 устройств памяти возможно.
(2) В двойной конфигурации главы теста, пропускная способность решительно улучшена, поскольку главы теста действуют независимо и могут одновременно проверить два различных типа устройства.

Тестирование Пакета на Все Типы Устройства Памяти
Для ГЛОТКА, SRAM, PSRAM, Вспышки, MCP (Много Пакет Чипа) и ASIC с памятью
(2) Для вафли и KGD (Известная Польза Умирают), тесты

Уменьшенный След
Благодаря его недавно развитой многофункциональной испытательной станции MT6121 использует только 60 % площадь предыдущих тестеров Yokogawa.

Дружественный к пользователю
Пользовательский интерфейс AViPS™ уменьшает и время развития и оценки.

Максимум проверяют частоту: Mbps на 280 МГц/560
Параллельное измерение: 128 устройств (x устройства на 18 битов)
256 устройств (x устройства на 9 битов)
512 устройств (x устройства на 9 битов с общим DRV, сжатым способом IO.)
глава Теста: 2 единицы или 1 единица