Инспекционная машина для фотоэлектрических солнечных элементов

TFIflex - Гибкая Платформа Осмотра Тонкой пленки

Клетки ОБЪЕМА ПЛАЗМЫ Тонкой пленки на гибких основаниях предлагает большое обещание для будущего Photovoltaics, позволяя решения и заявления, не возможные с традиционными прозрачными клетками. Также, уникальный характер гибких солнечных батарей тонкой пленки поместил трудные требования к традиционным машинным решениям для видения. Ксирис понимает требования для того, чтобы осмотреть качественные маркеры, и целостность проверяет рефлексивные поверхности, нестандартные факторы формы, и таможенные производственные методы. Xiris развил TFI-сгибать инспекционную систему, чтобы обнаружить дефекты в гибкой тонкой пленке клетки ОБЪЕМА ПЛАЗМЫ.

TFI-сгибание включает уникальный линейный блок формирования изображений с высокой разрешающей способностью, Край светочувствительного датчика, и многоспектральный структурированный легкий генератор, чтобы осмотреть дефекты на Гибких Клетках ОБЪЕМА ПЛАЗМЫ Тонкой пленки. Компактный дизайн TFI-сгибания гарантирует легкую интеграцию в многократные местоположения вдоль поточной линии для новой линии или установок модификации.

TFI-сгибать система - полностью способная инспекционная система проверки и подтверждения поверхностных признаков и недостатков (таких как пустоты в антиотражающем / слои пассивирования, окраски, царапины, цветное различие) так же как структурные особенности и дефекты (такие как впадины, сгибы, складки, неоднородности, и т.д.). Весь признак и осмотры особенности выполнены действующие на скорости линии, синглом TFI-сгибают датчик.