Сканирующего электронного микроскопа (SEM) <BR /> (3D, RA, RZ)

С трехмерным заявлением Реконструкции Грубости Phenom в состоянии произвести трехмерные изображения и измерения грубости подмикрометра.

Это полностью автоматизированное заявление на Phenom, просматривая электронный микроскоп поможет сообщить результаты отображения и будет извлекать и визуализировать данные, обычно скрываемые в пределах образца.

трехмерный
трехмерное отображение помогает интерпретировать типовые особенности и делает изображения понятными для более многочисленной группы пользователей. Это является часто трудным, например, идентифицировать вмятины, царапает и шипит от плоских 2-ых изображений.

Грубость
Измерение средней грубости (Ра) и (С пассивной паузой) высота грубости важно для управления и понимания производственных процессов. При использовании отображения SEM для сбора данных намного лучшая резолюция может быть достигнута чем при использовании традиционных (косвенных) методов.

трехмерное заявление Реконструкции Грубости - желательное дополнение к любому Phenom, когда один или больше следующего требуются:
• Контроль качества в механической обработке
• Анализ структуры
• Характеристика доказательств
• Дефект & анализ отказа
• Анализ изнашивания - трибология

трехмерное заявление Реконструкции Грубости доступно в Про Наборе Phenom, который содержит многократные Phenom-определенные заявления.

Выгода трехмерного заявления Реконструкции Грубости:
• Выигрывает у оптических и механических систем измерения;
- Высокое разрешение
- Нечувствительный для рефлексивных образцов
- Прямой метод
- Неразрушающий
• Интуитивный полностью автоматизированный пользовательский интерфейс
• Основанный на ‘форме от штриховки’ технология, никакой наклон стадии, требуемый
• Интегрированное решение
• Быстрая реконструкция
• Модификация на любой Phenom