PIEZO микроскопа нано-фокус системы суб-нм точности, к югу от мс ответ

- Piezo Z-stage Дизайн
- Просмотры и Цели Положений с Резолюцией поднм
- Высокая Линейность и Стабильность с Прямым образом имеющими размеры Емкостными Датчиками
- Путешествие к 460 µm, Быстрый Ответ & Улаживая Время
- Лишенную трения Систему Руководства Сгибания Точности
- Расширенная Руководящая Точность для Лучшей Стабильности Центра
- Спрашивает о Выборе Держателя Призмы DIC
- Диспетчере, Совместимом с программным обеспечением Отображения Metamorph™
- Быстрый Адаптер Замка для Легкого Приложения

P-725 PIFOCs® piezo Z-стадии является длинным путешествием, быстродействующая, пьезо-ведомая цель микроскопа nanofocusing/scanning устройства.
Несмотря на увеличенные диапазоны путешествия (до 460 µm), они на 20 % короче чем единицы P-721 (см., что страница видит связь), обеспечивая резолюцию подмиллимикрона. Оборудованный ультраточными, прямым образом имеющими размеры емкостными датчиками, эти устройства идеальны для задач, таких как поверхностная метрология или deconvolution микроскопия (приобретение Z-стека). Недавно разработанный, лишенный трения, сгибание руководящая система обеспечивает увеличенную точность для превосходящей стабильности центра с быстрым ответом для быстрого урегулирования и просмотра.

P-725 PIFOCs® установлены между башенкой и целью, расширяя оптическую траекторию только на 12.5 мм (бесконечность исправляла требуемый микроскоп; дополнительные трубы доступны, чтобы приспособить длины пути других целей на башенке). Проекты по заказу для того, чтобы поместить полную башенку являются доступными по запросу.