Аналитическая полевой эмиссии сканирующего электронного микроскопа (FE-SEM)

MERLIN™
Analytical Власть для Мира Подмиллимикрона

-Nano Аналитика
-Общем-количестве
-непринужденность Использования
-будущее Assured

MERLIN™ - анализ и высокая разрешающая способность в одном
МЕРЛИН ФИ-СЕМ преодолевает конфликт между резолюцией изображения и аналитической способностью. Ядро МЕРЛИНА - расширенный БЛИЗНЕЦ II колонок, которые, с ее двойной системой конденсатора, достигают разрешения изображения 0.8 миллимикронов. Типовой поток до 300 nanoamperes доступен в аналитических целях, таких как энергия и длина волны дисперсионная спектроскопия рентгена (РЕДАКТОРЫ и WDS), анализ дифракции backscattered электронов (EBSD) или производство cathodoluminescence.

система поддерживает пользователя с широким диапазоном подробных решений для задач, которые не могли быть соответственно выполнены в прошлом. Начало для этого достижения было положено Карлом Цайссом "Полная Система Обнаружения". Это состоит из датчика SE в линзе для поверхностного отображения, датчика EsB в линзе для материального контраста и датчика AsB для широко рассеянных backscattered электронов. Последние содержат определенную информацию о кристаллической ориентации образца.